Предназначен для измерения толстослойных диэлектрических покрытий на электропроводящих ферро- и неферромагнитных основаниях.
Преимущества:- Контроль покрытий специального назначения — пленочных, битумных, огнезащитных, цементных, пластиковых в полевых условиях
- Контроль толщины стеклопластиковых конструкций в процессе их формования
- Высокая температурная стабильность.